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Técnicas Servicio Fluorescencia de Rayos X

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La fluorescencia de rayos X (XRF) es una de las técnicas más importantes en el área del análisis químico instrumental. Permite el análisis cualitativo y cuantitativo de todo tipo de materiales amorfos y cristalinos en tiempos relativamente cortos.

Los elementos que se pueden determinar con esta técnica van desde el aluminio al uranio en orden creciente de número atómico. Para poder cuantificar la concentración de dichos elementos se recurre al uso de patrones adecuados. Así se puede conseguir evaluar concentraciones que oscilan desde partes por billón en elementos traza a 100 % (peso) en elementos mayoritarios con una excelente precisión.

De forma resumida, la técnica consiste en el estudio de las emisiones de fluorescencia de rayos X generadas después de la excitación de una muestra mediante una fuente de rayos X. Al excitarse los átomos de los elementos presentes en la muestra, los electrones de las capas más internas son arrancados o se promocionan a niveles de energía superiores dando lugar a huecos electrónicos.

Los huecos originados son ocupados por electrones de otras capas superiores, emitiéndose una energía que equivale a la diferencia de los niveles de energía implicados. Esta energía se emite en forma de fotones (radiación con una determinada longitud de onda) y recibe el nombre de “radiación característica”. Esta denominación es debida a que cada elemento químico tiene un número de protones y electrones característico por lo que las energías de enlace (niveles de energía) son distintas y así se puede diferenciar entre un elemento y otro. La intensidad de las radiaciones características depende directamente de la concentración de dicho átomo en la muestra.
La técnica de fluorescencia por dispersión de longitudes de onda se basa en la colocación de cristales analizadores entre el detector y la muestra. Estos dispersan las diferentes longitudes de onda de las radiaciones X emitidas. A continuación, el detector determina la intensidad de una longitud de onda concreta.

 

更新: 科研中心服务

日期: 28 十月 2009

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