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Presentación de Servicio FTIR-Raman

Los Servicios Centrales de Investigación de la Universidad de Almería incorporan en su listado de instrumentación un espectrofotómetro de infrarrojo medio (MIR) por transformada de Fourier (FTIR) de altas prestaciones, modelo Bruker Vertex 70.
Los espectrofotómetros de infrarrojo son equipos ampliamente usados en investigación y en el sector industrial para llevar a cabo análisis de caracterización físico-química de materiales, identificación química y estructural de moléculas e iones adsorbidos sobre superficies o análisis de la composición de una muestra.
La técnica de transformada de Fourier permite la obtención de espectros de forma rápida, precisa y con relaciones señal/ruido elevadas.
El espectrofotómetro Vertex 70 dispone, además, de un módulo FT-Raman RAM II que permite la obtención de espectros de dispersión Raman de muestras tanto sólidas como líquidas y en disolución. El equipo admite además la medición directa de muestras contenidas en tubos estándar de RMN.
La espectrofotometría de dispersión Raman es una técnica de carácter no destructivo en la que las muestras a analizar no necesitan ningún tratamiento previo. Al igual que la FTIR, ofrece información acerca de la energía vibracional de las moléculas, pero permite analizar muestras que normalmente producen bandas débiles en infrarrojo (como es el caso de moléculas simétricas, enlaces no polares y cadenas homonucleares). En general, las señales FT-Raman son complementarias a las obtenidas en FTIR, pero resultan más estrechas permitiendo mayor resolución y simplicidad en los espectros, con pocas interferencias derivadas del agua o del vidrio. Además, permite acceder a la zona del infrarrojo cercano comprendida entre 400 y 70 cm-1, que no está disponible en el espectro MIR. Como contrapartida, el FT-Raman no es adecuada para el análisis de trazas o de compuestos fluorescentes.
El equipo cuenta asímismo con un microscopio IR Hyperion 2000 con platina motorizada para la obtención de espectros de FTIR por transmisión y reflectancia tanto en modo “imaging” como “mapping” de muestras macro- y microscópicas. La resolución en el rango de la micra permite el análisis zonal diferenciado tanto en superficie como en perfil de muestras complejas y láminas delgadas que contengan múltiples componentes.
 

Actualizado por: Servicios Centrales de Investigación

Fecha: 14 de marzo de 2014

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